導波雷達物位計測量原理技術要求

來源：江蘇騰泰儀表科技有限公司瀏覽：-1604 發(fā)布日期：2021-08-24

一、導波雷達物位計測量原理
低強度電磁脈沖以納秒級寬度被發(fā)射并沿著剛性或柔性的導體以光速跋涉，當脈沖接觸到介質表面時被反射。反射信號被表面接收，發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間距離與基準面到被測介質表面的距離成正比。通過測量發(fā)射與接收的時間距離，來完成基準面至被測介質表面距離的測量。

①時間1：產(chǎn)生初始脈沖
②時間2：沿導體向下跋涉，速度 C（光速）
③時間3：脈沖遇到被測介質表面產(chǎn)生反射
④時間4：反射脈沖被接收，并被處理器記載
⑤脈沖信號從被發(fā)射到被接收之間的時間差 T，與基準面到介質表面的距離 D 成正比：D=C×T/2
⑥測量的基準面是：螺紋底面或法蘭的密封面
⑦A:量程 B:低位 C:滿位 D:盲區(qū)
⑧運行時，確保*高料位不能進入測量盲區(qū)D

二、導波雷達物位計技術優(yōu)勢
1、更高的動態(tài)信號和更窄的脈沖帶來更高精度與重復性；
2、低介電常數(shù)介質的*佳挑選；
3、能量會集，具有更強抗攪擾才干，大大提高了可靠性；
4、測量盲區(qū)更小，關于小罐測量也會獲得優(yōu)異作用；
5、測量靈敏、改寫速度快、設備簡潔、牢固經(jīng)用、免保護；
6、簡直不受溫度、壓力、水蒸汽、泡沫、粉塵等凌亂工況的影響；
7、選用兩線制回路供電的技術，供電電壓和輸出信號通過一根兩芯電纜傳輸，節(jié)約成本；
8、選用**微處理器和一起回波處理技術，可適用于各種凌亂工況；
9、發(fā)射功率極低，可設備于各種金屬、非金屬容器內，對人體環(huán)境沒有無傷害；
10、帶有按鍵的顯示屏可便利設置表面的參數(shù)；
11、更小的體積，削減設備難度；

三、導波雷達物位計設備前準備
1、確保在進程銜接的正下方?jīng)]有任何攪擾體存在；
2、預留滿足的設備空間；
3、防止對信號轉換器的激烈日照，如有必要，請設備防護罩；
4、防止激烈轟動的設備場合；
5、能夠在同一容器上設備多臺導波雷達物位計；

四、導波雷達物位計設備輔導
1、在整個量程內確保纜或桿不要接觸到內部障礙物，因此設備時應盡或許避開罐內設施，如：人梯、限位開關、加熱設備、支架等。另外須留意纜或桿不得與加料料流相交。
2、設備導波雷達物位計時還要留意：*高料位不得進入表面的測量盲區(qū)，表面距罐壁有必要堅持一定的距離，表面的設備盡或許使天線的發(fā)射方向與被測介質表面筆直。設備在防爆區(qū)域內的表面有必要恪守國家防爆危險區(qū)的設備規(guī)則。防爆型表面的外殼選用的是壓鑄鋁材質。防爆型表面設備在有防爆要求的場合時，表面有必要接大地。

五、導波雷達物位計設備要求
1、圖例說明